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雙折射測量儀PA-300-MT
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300-MT主要特點:
操作簡單,測量速度可以快到3秒;
視野范圍內可一次測量,測量范圍廣;
更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點;
具有多種分析功能和測量結果的比較;
維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構;
高達2056x2464像素的偏振相機。
雙折射測量儀PA-300-MT應用領域:
小尺寸樣品
光學鏡頭
主要技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 17.5x21mm到33x40mm(標準) |
7 | 選配鏡頭視野 | 6.3x7.5mm |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制 |
測量案例: